Ceramic Inspection System

시스템 개요

 

반도체 세라믹 표면의 미세 이물질 및 크랙 검사를 자동으로 수행하는 시스템입니다.

 

 

자동으로 150mm X 150mm의 유동 크기 샘플을 자동스캔하고 미세 이물을 자동 검출 및 자동 선별합니다.
멀티 스레딩 분산처리 기술을 구현하여 CPU 유휴 자원없이 최대 성능을 실현합니다.

검출된 검출결과를 관찰 가능하며, 실시간 타일링 맵에서 검사 완료후 이물질 관찰을 위한 모션 컨트롤을 지원합니다.

Specification

구분

내용

OS Microsoft Windows 7 이상
Memory 4GB 이상
Vision USB 3.0 5MegaPixel Color CMOS
Takt Time 기본 옵션에서 1분
Motion Control Autonics 3축